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日立光譜儀的基本原理
日立光譜儀的基本原理
手持式合金分析儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成。由于它具有便攜、高效、準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)使其在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)有著廣泛的應(yīng)用。
手持式合金分析儀的基本原理:
手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí),就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。
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